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选择涂层测厚仪的方法

涂层测厚仪需要根据实际的情况来进行选择

1、根据被测材料大小选择

测量常规平面，凹槽等材料的涂层厚度，可以使用一体式或者分体式涂层测厚仪。被测物如果比较小，如螺丝、螺帽以及异型材料，可以使用探针式的表面涂层测厚仪。为了测量的准确性也可以配合手压测试机架进行测试。

2、根据测量场合选择

被测物表面平整且空间大的话，可以使用主机与测头一体式的涂层测厚仪，如果测量空间比较狭小，分光膜厚测量仪价位，可以使用分体式设计的涂层测厚仪。

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影响涂层测厚仪测量精度的因素

1、边缘效应响?

针对一些表面并不光滑的基体金属进行测量时，仪器会对金属表面的陡变产生敏感变化因此在对基体金属的转弯处或凹凸面进行测量所得到的数据是不可靠的

2、表面粗糙程度

金属看似光滑，实则上表面粗糙不平。金属表面的粗糙程度越大，会对仪器产生的误差也就越大，为减少误差，枣庄分光膜厚测量仪，可以对同一个位置进行反复测量以减少误差，分光膜厚测量仪价格，亦或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

3、附着物质

当测头与基体金属表面的存在妨碍测量的阻碍物质时，会对测量的结果产生较大影响。因此必须去除附着物质。

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反射膜厚仪

紧凑型高精度反射膜厚仪，利用光学干涉原理，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。

光学薄膜测量解决方案;

非接触、非破坏测量;

重点算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析;

是膜厚重复性测量精度:0.02nm

配置灵活、支持定制化

产品特点

采用高强度卤素灯光源，分光膜厚测量仪哪家好，光谱覆盖深紫外到近红外范围;

采用光机电高度整合一体化设计，体积小，操作简便；

基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析单层薄膜到多层；

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